企业信息
第9年
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产品详情
简单介绍：
日本NF 阻抗分析仪 ZA57630
日本NF 阻抗分析仪 ZA57630
详情介绍：
阻抗分析仪
ZA57630
“True Value”
测量真正的特性。
▲ ZA57630
从电子零件、半导体器件到材料的特性评价，应对多样的阻抗测量需求
基本精度
频率范围
阻抗范围
测量 AC 信号级别
DC 偏置
测量时间
测量参数
±0.08%
10 µHz～36 MHz
10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
0.01 mVrms～3 Vrms
0.1 µArms～60 mArms
−5 V ～ +5 V/−40 V ～ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ～ +100 mA
0.5 ms/point
Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ,
Q, V, I, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, FREQUENCY
快速测量 业界*快 0.5 ms/point
实现了业界*快的0.5ms/point。
缩短生产线的节拍时间，提高测量作业的效率。
此外，通过增加设定的测量时间，使测量结果平均化，减轻噪声的影响。可视需要选择*合适的测量时间。
4种测量模式 应对广泛的DUT
IMPD-3T
标准测量模式
本模式可以在广泛的频率范围内进行高精度测量。可使用测试线及测试夹具，应对各种形状的试样。
IMPD-2T
高频测量模式
本模式可以在 10MHz 以上的高频下进行稳定的测量。使用 N 型连接器进行 2 端子测量，即便配线长，也可以进行稳定的测量。
IMPD-EXT
外部扩展测量模式
本模式为外部连接放大器或分流电阻等物进行测量。
可以通过施加高压信号或检测微小电压 / 电流进行单独使用本仪器无法应对的测量。
G-PH
增益/相位测量模式
本模式可以测量滤波器、放大器等的传输特性。向被测电路施加扫描信号，高精度地测量其频率响应（增益、相位）。
正面面板测量端子
