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第9年
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产品详情
简单介绍:
硅片等的渗透检查的理想选择。
作为波长为1100nm的红外光的特征,可以透射硅材料。
详情介绍:
红外线照明红外4系列
硅片等的渗透检查的理想选择。
作为波长为1100nm的红外光的特征,可以透射硅材料。
它也对应于CMOS摄像机的感光度范围,即使不是红外摄像机(例如昂贵的InGaAs摄像机),也可以进行透射检查。
还请考虑红外照明红外系列和长波长红外照明红外3系列。
模型 | 输入电流 | 照明类型 | 峰值波长 |
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IHVE-21IR-1100 | – – | 同轴射灯 | 1100纳米 |
*请同时考虑红外照明红外系列和长波长红外照明红外3系列。
什么是红外线?
介绍通过红外照明进行电路图案检查的示例。
红外照明的波长比可见光(可见光)长,人眼不可见。
与紫外光和可见光相比,红外光的散射率非常低,因此它具有很高的透射率并允许液体和墨水通过。
特别地,波长为1100nm的光具有穿过硅的性质。
另外,与卤素不同,波长范围受到限制,因此它不会影响光敏工作。
红外波长分布图
成像示例:观察硅晶片上的电路图案
即使在照射光的红外波长相同的情况下,特性也根据波长而变化。
硅晶片不透射短波长的光,但是它们开始透射1000 nm左右的红外波长,并且1100 nm以上的红外波长的透射率变得恒定。
因此,它在850 nm或940 nm的红外照明下几乎是不可见的,并且可用于从1100 nm或更高的红外照明进行透射检查。
成像环境 相机:CMOS黑白相机 镜头:远心镜头x 1x 电路板:柔性印刷电路板
该板被固定在晶片上,并且被评估为在晶片上具有电路。 |
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□850nm在 波长为850nm的辐照光下,它不能穿过硅晶片并且看起来是黑色的。 |
□1100nm 波长为1100nm的照射光穿过硅晶片,可以识别出基板图案。 |
□1200nm 波长为1200nm的照射光穿过硅晶片,但由于它不在CMOS相机的感光度范围内,因此看起来是黑色的。 |
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