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产品特点:
带有200x150mm的X-Y标准操作平台,可测量较大体积样品
在反射测量时,从两个方向呈45º照射,测定交叉点在两个光学轴上,使聚焦点更容易观察
用于对铅珊、电子部件、金属、建筑材料和精密设备的发光和反射密度(OD)的测量和控制,还可用于测量和控制印刷品和纸张等的反射密度(OD)和反射率
用于对铅珊、电子部件、金属、建筑材料和精密设备的发光和反射密度(OD)的测量和控制,还可用于测量和控制印刷品和纸张等的反射密度(OD)和反射率
通过滤光片快速测量三原色而不需接触样品,并且得到每种颜色的值(包括镀金金属)
可以在Y范围内测量反射密度,修正密度计算
技术参数 |
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