晶振测试仪基本介绍

日期：2024-12-22 16:30

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摘要：

晶振测试仪基本介绍
晶振测试仪，是通过使用微处理技术，实现了智能化测量的测试仪。该机*大的特点是采用倒数计数技术，测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；可进行PPM测量、偏差测量、上下限测量等。

主要功能特征

1晶振测试仪采用倒数计数技术,测量精度高,测量范围广,真正实现精度测量,测量速度快,灵敏度高.

2.采用单片机技术进行周期频率测量和智能化管理,使仪器具有很高的可靠性和优良的性价比.

3.整机有用大规模集成电路设计,CPLD器件的运用,使仪器元器件大为减少,可靠性有了大幅度的提高,平均无故障工作时间>10000h.

4.整机外观美观大方、体积小、重量轻，使用方便。

5.本机有计数功能，可以自动计算出良品的数量。

晶振测试仪应用

中心频率F0、偏差频率Fr、上下频率Fu、下限频率FL可任意设定并能进行存储，设有计数功能，在分选好坏时特别好用，可自动计算出良品的数量。特别适合手机维修行业、晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的科研及生产之用.

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