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晶振测试仪的主要技术指标

日期:2024-06-29 22:40
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摘要: CX-118A晶振测试仪/晶体测试仪/PPM测试仪 产品简介: 一、CX-118A是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。主要功能:频率测量,PPM测量,周期测量,数据累计 ,功能设定 二、主要技术指标: 频率测量范围: 0.1Hz — 100MHz 频率测量灵敏度:30mv PPm测量:3KHz — 100MHz PPm测量精度:≤1 PPm (1×10-6) (可扩展0.1PPm , 0.01 PPm) 中心频率:0 Hz — 100 MHz任意设定 误差设置范围设定:± 1 — ± 999 PPm任意设定。 闸门设...

CX-118A晶振测试仪/晶体测试仪/PPM测试仪
产品简介:
一、CX-118A是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。主要功能:频率测量,PPM测量,周期测量,数据累计 ,功能设定

二、主要技术指标:
频率测量范围: 0.1Hz — 100MHz
频率测量灵敏度:30mv
PPm测量:3KHz — 100MHz
PPm测量精度:≤1 PPm (1×10-6)
(可扩展0.1PPm , 0.01 PPm)
中心频率:0 Hz — 100 MHz任意设定
误差设置范围设定:± 1 — ± 999 PPm任意设定。
闸门设置:四档 ,0.01s、 0.1s、1s三档固定,
1档闸门1ms — 10s可设,
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围:100 ms — 10 s
晶振稳定性:5 ×10-7 / 日


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