- 如果您对该产品感兴趣的话，可以
- 产品名称：日本日置HIOKI 3506容测试仪
- 产品型号：HIOKI 3506
- 产品展商：其它品牌
- 产品文档：无相关文档
- 发布时间：2018-06-19
- 在线询价
简单介绍
日本日置HIOKI 3506容测试仪，HIOKI3506 C测试仪
日本日置HIOKI 3506容测试仪对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
日本日置HIOKI 3506容测试仪反复测量精度更高，
*适合生产线 校正维修功能，减低由环境的温度变化影响
测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能
比测仪的设定值和测定值的同步显示
2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量
根据BIN的测定区分容量
比测仪和触发器同步输出功能
HIOKI 3506容测试仪输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
产品描述
日本日置HIOKI 3506容测试仪，HIOKI3506 C测试仪
日本日置HIOKI 3506容测试仪对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
日本日置HIOKI 3506容测试仪反复测量精度更高，
*适合生产线 校正维修功能，减低由环境的温度变化影响
测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能
比测仪的设定值和测定值的同步显示
2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量
根据BIN的测定区分容量
比测仪和触发器同步输出功能
HIOKI 3506容测试仪输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
日本日置HIOKI 3506电容测试仪的基本参数
|
测量参数
|
C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q （1/tan δ）
|
|
测量范围
|
C:0.000fF ～ 15.0000mF
D: 0.00001 ～ 1.99999
Q:0.0 ～ 19999.9
|
|
基本确度
|
（代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
|
|
测量频率
|
3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz
|
|
测量信号电平
|
500mV, 1V rms
|
|
输出电阻
|
1Ω （在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs）, 20Ω 上述测量范围以外）
|
|
显示
|
LED（6位显示,满量程由点数有效距离来决定）
|
|
测量时间
|
代表值: 2.0 ms （FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
|
|
机能
|
BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口
|
|
电源
|
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大40VA
|
|
体积及重量
|
260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
|
|
HIOKI 3506附件
|
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1
|
- 温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
- 免责申明：以上内容为���册会员自行发布，若信息的真实性、合法性存在争议，平台将会监督协助处理，欢迎举报