【ORTEC Alpha Suite单路至八路alpha谱仪】
Alpha谱仪是基于特征能量的α粒子对半导体材料（Si）原子发生的电离作用而产生信号，经放大器与多道分析器处理后获得各不同能量粒子的能谱图。由于其弱的穿透能力，需要采用消解、分离、电镀等化学方法进行样品前处理而形成面源，并需要为测量创造真空条件。
Alpha能谱测量技术与仪器已在世界范围内广泛应用于环境与卫生评价（如氡钍气溶胶测量、食品检验、人体健康等）、资源勘查（铀矿、石油、天然气等）和地质构造勘查（如地下水资源、地质沉陷等）等领域。
评价Alpha谱仪的主要指标有：探测效率、能量分辨率、本底与稳定性等。
ORTEC在alpha谱仪上采用超低本底和PIPS工艺（表面钝化、离子注入、可擦洗）硅探测器，同时真空舱室也为（超）低本底材料。面积上提供300、450、490、600、900和1200平方毫米的选择，有效耗尽层100μm。
结构特性与性能指标：
探测器的面积可选300/450/490/600/900/1200 mm2；样品直径可从13mm至51mm。探测器与被测样品之间有10档距离可选，相邻两档之间的距离差为4mm, *大距离可达44mm。
完全数字化且每路完全独立的MCA，一切参数由计算机控制。（Alpha Aria由外面板控制真空）
真空计：范围10mTorr到20Torr。
探测器偏压：范围0±100V, 大小和正负极性可调节。漏电流检测器：范围0到10,000nA，显示分辨率3nA。
脉冲产生器；范围0到10Mev，稳定性<50ppm/ºC，脉冲的幅度可调。
数字化MCA：通过软件可设置系统转换增益(道数)为256、512、1024、 2048或者4096道，细调增益为0.25到1；增益稳定性: ≤150ppm/ºC；每个事件的转换时间(死时间)：<2 µs。
数字化稳谱、ADC的零点(ZERO)和下阈(LLD)均由计算机调节设置。谱仪的探测器偏压、漏电流均可在软件相关界面上以数字和图形显示出来。
输入电源：120/240 V ac, 50/60 Hz输入功率50W。
通讯：USB2.0接口。每一个Alpha Ensemble*终提供一条电缆给PC。
应用软件：MAESTRO-32 或 AlphaVision
Ensemble-8尺寸：48.5cm W× 49.2cm D × 27.2cm H；净重：26.6 kg；
工作条件: 温度0ºC到50ºC, 相对湿度 ≤ 95%。
分辨率与本底：基于使用450mm2 ULTRA-AS探测器和高质量的241Am点源，能量分辨率(FWHM):≤20KeV (探测器到源的距离等于探测器的直径)，探测器效率: ≥25% (探测器到源的距离小于10mm)，本底：在3MeV以上, 每小时计数≤1。