【ORTEC数字化谱仪：DSPEC-LF, -jr2.0, -Pro & DigiDART】
ORTEC数字化谱仪的基本特征
l 一切控制与参数设置由计算机进行。
l 高的数据通过率：大于100kcps
(DSPEC-Pro大于130kcps)。
l 数字化稳谱、数字化自动极零、自动*优化、内置虚拟示波器和数字化门控基线恢复等功能。
l 用户可预置多个核素的MDA，在所有MDA满足时自动终止计数。
l 统一的“即插即用”式背面板接口，与DIM/Smart-1匹配，相互间具有良好的互换性与兼容性。
数字化自动极零（AUTO-PZ）：Digital Automatic Pole Zero U.S. Patents No.:
5,872,363
自动极零技术主要基于解决（中）高计数率情况下分辨率变差的问题。该技术*早与门控基线恢复和脉冲抗堆积功能一起，集中应用于ORTEC 672主放。
自动*优化功能：Optimize feature： U.S. Patents No.:
5,821,533
对于样品活度水平完全未知的情况，可以通过软件快速设置“自动*优化”功能，由系统快速选定*佳的参数设置。
零死时间校正：“Zero Dead Time” (ZDT) "loss-free
counting" correction： U.S.A. Patent No. 6,327,549
在谱获取中，对于中子活化分析中计数率快速衰减、或是在线测量时突然出现的尖峰信号的情况，ZDT方法采用ORTEC精密的Gedcke-Hale时钟进行零死时间校正，以实现无损失计数（Loss-free Counting）。由软件可以快速选定这一功能。经校正的谱图和未经校正的谱图可以同时保存，以作进一步分析。
ZDT在显示校正后的谱图的同时给出与之对应的不确定度。
低频抑制器（LFR）：Low Frequency Rejector：Patent
Pending
LFR是一项新型的数字化滤波技术，主要用来消除来自于机械制冷、电源电压波动或接地**等外部因素导致的低频噪声信号，从而使系统的分辨率得到进一步改善。
用户可根据情况选择开启或关闭此项功能。
弹道亏损校正/虚拟示波器：
在系统采用相对效率较高的HPGe探测器或遭遇中子损伤的探测器时，弹道亏损效应（Ballistic Deficit）常导致分辨率变差甚至恶化（尤其在高能端），ORTEC数字化谱仪可以通过其内置虚拟示波器轻松解决这一问题：比如对207%的HPGe探测器，将平顶时间设为0.8μs，就能使分辨率达到理想水平。当然，也可以结合软件通过自动*优化功能轻松完成参数设置。
数字化门控基线恢复器：Digital
Automatic Baseline Restorer: U.S. Patents No.: 5,912,825
List Mode：进行实时测量时需要开启此功能。
技术参数：
*大数据通过率: 大于100kcps；DSPEC-Pro在“增强通过率”模式下大于130kcps。
增益：粗调：由计算机选定为1,2,4,8,16,或32；细调：由计算机设定为0.45至1.00。
成形时间常数：上升时间：0.8至23 ms可调，每步0.2ms，由计算机选择；平顶：范围从0.3至2.4ms，每步0.1ms，由计算机选择。在自动*优化功能下自动调整。
存储器分段（系统变换增益）：由计算机选择为16,384，8192，4096，2048，1024或512道。
非线性：积分非线性：≤ ±0.025%；微分非线性：≤ ±1%
数字化稳谱器: 由计算机控制并稳定增益和零点。
温度系数：增益：<35ppm/°C；零点：<3 ppm/°C。
过载恢复：在*大增益时，能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内。
脉冲抗堆积：自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns。
自动数字化极零调节：由计算机控制，可以手动或自动设定，远程模拟示波器方式诊断。
LLD/ULD：数字下域电平甄别器，以道为单位设置，LLD以下所有各道的计数被卡掉；数字上域电平甄别器，ULD以上所有各道的计数被卡掉。
数据存储器：16,384道不丢失数据存储器，每道容量231-1（20亿）计数。
计数率显示：在谱仪或电脑屏幕上显示计数率。
死时间校正：按Gedcke-Hale 法活时校正，精度（随峰面积而变化）<+ 3% ( 0 – 50,000 cps)。
显示/接口：240´160像素(pixel)背光液晶显示(LCD)提供谱的活显示和状态信息。USB2.0接口。
尺寸与重量：-LF, -jr2.0, -Pro ：24.9D×20.3W×8.1 H cm, 1.0kg； DIM：11.2×3.13×6.5 cm, 240g
DigiDART：20×10×7.5cm；重量＜900克（含电池）
工作条件：-LF, -jr2.0, -Pro：5°C~50°C（包括LCD显示）。DigiDART(-LF)：-10°C~60°C
操作系统：Windows
98/2000/XP/Vista/NT
【ORTEC数字化谱仪：DSPEC-LF, -jr2.0, -Pro & DigiDART】的性能比较
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数字化HPGeγ谱仪
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DSPEC-502
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DSPEC-LF
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DSPEC-jr 2.0
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DSPEC-Pro
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DigiDART
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DigiDART-LF
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特性
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双路高性能
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普通
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**
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动态测量
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便携式
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便携式
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γ探测器
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HPGe
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HPGe
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HPGe
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HPGe
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HPGe/NaI/LaBr
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NaI/LaBr
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自动*优化
No. 5,821,533
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数字化自动极零
No. 5,872,363
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ZDT：零死时间校正
No. 6,327,549
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×
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内置虚拟示波器
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×
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弹道亏损校正
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×
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数字化门控基线恢复
No. 5,912,825
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LFR：低频抑制器
Patent Pending
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×
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×
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×
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×
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List Mode
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×
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×
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×
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×
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*大的数据通过率（kcps，关闭LFP）
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100
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100
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100
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130
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100
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100
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MCA道数
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16384
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16384
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16384
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16384
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16384
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2048
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与探测器的接口
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分散/DIM
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DIM
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DIM
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DIM
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DIM
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DIM
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与PC的接口
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Ethernet/ USB2.0
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USB2.0
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USB2.0
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USB2.0
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USB2.0
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USB2.0
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工作温度（℃）
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0—50
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0—50
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0—50
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0—50
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-10—60
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-10—60
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【ORTEC数字化谱仪：DSPEC-LF, -jr2.0, -Pro & DigiDART】
【ORTEC数字化谱仪：DSPEC-LF, -jr2.0, -Pro & DigiDART】
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