ORTEC GEM-30-P4高纯锗伽玛谱仪技术指标
高纯锗探测器GEM30P4
晶体类型： P型同轴高纯锗
相对探测效率：≥30%
能量分辨率FWHM：≤0.85 keV@122keV；≤1.85keV@1.33MeV
峰康比： ≥60：1；
峰形：FW.1M/FWHM≤1.9 FW.02M/FWHM≤2.6；
封装特点： PopTop冷指可拆卸结构，端窗直径76mm，
电致冷装置CFG-XCOOLER-III-230
完全脱离液氮，性能稳定可靠；
要求体积小，能置于铅室下方空腔；
功耗：启动时<500 W； 运行时<400 W
数字化谱仪DSPEC-jr2.0-POSGE
-*大数据通过率：大于100kcps（低频抑制器LFR关闭）；大于34kcps（低频抑制器LFR开启）；
-具有低频噪声抑制、自动*优化、自动极零、零死时间校正和虚拟示波器等功能；
-液晶屏显示，能随时显示探测器晶体温度、高压状况、增益/零点稳定性、实时间/活时间和计数率等信息；USB2.0接口；
-系统变换增益（存储器分段）：由计算机选择为16,384，8192，4096，2048，1024或512道；
-积分非线性 £±0.025%；微分非线形 £±1%；
-数字化稳谱器：由计算机控制并稳定增益和零点；
-温度系数： 增益:<35ppm/°C ；零点:<3 ppm/°C；
-脉冲抗堆积：自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns。
解谱软件GammaVision(A66-BWC)
中文软件，在中文Windows或XP上运行，可以自动或手工操作进行剥谱，以正确地对多核素间干扰进行校正；用户控制选定多种预置条件：指定MDA，指定统计测量，活时间，实时间，峰面积及谱计数率等；对峰核素加标识，以供操作员控制，求平均活度，选择性活度报告及MDA报告。
国产低本底铅室LX710：
铅室内腔尺寸：28cm直径×40cm高
铅室主体由外到内的构造：9.5mm低碳钢外衬、101mm Doe Run老铅、0.5mm锡和1.6mm软铜内衬
本底保证值≤3.0cps
系统应适应的外部条件
-温度：0~50℃
-相对湿度：小于80%
-地面承重：大于1.6吨
-三相交流200~240V, 50Hz，可靠接地
供货期：签订合同后30天内到客户指定地点