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介质损耗测试仪 全自动抗干扰

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  • 产品名称:介质损耗测试仪 全自动抗干扰
  • 产品型号:AODD-JS-II
  • 产品展商:爱欧德
  • 发布时间:2018-07-10
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
介质损耗测试仪 全自动抗干扰 型号:AODD-JS-II 抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗,(tgδ)和电容容量(Cx)它淘汰了QS高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在国内同类产品中速度*快)等特点。体积小、重量轻是我厂的**代抗干扰介质损耗测试仪。
产品描述
介质损耗测试仪 全自动抗干扰

型号:AODD-JS-II

抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗,(tgδ)和电容容量(Cx)它淘汰了QS高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在国内同类产品中速度*快)等特点。体积小、重量轻是我厂的**代抗干扰介质损耗测试仪。

     技术指标

1、环境温度:0~40℃(液晶屏应避免长时日照)

2、相对湿度:30%~70% 

3、供电电源:电压:220V±10%、频率:50±1Hz

4、外形尺寸:长×宽×高   500mm×300mm×400mm

5、重量:约18Kg

6、输出功率:0.6KVA

7、显示分辩率:3位、4位(内部全是6位)

8、测量范围及输出电压选择:

    介质损耗(tgδ):±0.00~±999%

    试品电容容量(Cx)和加载电压:

     2.5KV档:≤300nF(300000pF)           3KV档:≤200nF(200000pF)

     5KV档:≤76nF(76000pF)                     7.5KV档:≤34nF(34000pF)

     10KV档:≤20nF(20000pF)

9、基本测量误差:

    介质损耗(tgδ):1%±7个字(加载电流20uA~500mA)

    介质损耗(tgδ):2%±9个字(加载电流5uA~20uA)

    电容容量(Cx):1.5%±1.5pF

    仪器为升压与测量一体化结构,输出电压2.5KV—10KV五档可调,以适应各种需要,在测量时无需任何外部设备,接线与QS电桥相似,但比其方便。

 

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