多功能数字式四探针
型号：AOD-FT-341
多功能数字式四探针多功能数字式方阻测试仪 数字式双电测四探针测试仪
多功能数字式方阻测试仪是运用方形四探针Keywell测量原理的多用途综合测量装置，它与直线四探针相比，消除了探针游离对测试结果的不利影响，大大提高**度，并提高微区测试能力，
多功能数字式四探针多功能数字式方阻测试仪 数字式双电测四探针测试仪
它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
本测试仪特赠设测试结果分类功能，大分类10类
仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
多功能数字式四探针多功能数字式方阻测试仪 数字式双电测四探针测试仪
三、基本技术参数
1.测量范围、分辨率
电 阻： 1.0×10-3～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω
电 阻 率： 1.0×10-3～ 20.0×103Ω-cm 分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω-cm
方块电阻： 1.0×10-3～ 20.0×103Ω/□ 分辨率1.0×10-3～ 0.1×103 Ω/□
2.可测半导体材料尺寸
直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或高）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3.量程划分及误差等级
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量程
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200.0
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20.00
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2.000
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200.0
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20.00
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2.000
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200.0
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kΩ-cm/□
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Ω-cm/□
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mΩ-cm/□
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误差
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±0.5%FSB±1LSB（在各量程范围内），超量程或欠量程可测量，但误差将随超欠程度而变大
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4)工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5)外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
净 重：≤1kg
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