介质损耗测试仪参数说明

变频抗干扰异频介损测试仪异用途特点及性能

变频抗干扰介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出。

1.1;主要技术指标

准确度：Cx:±（读数×1%+1pF）

tgδ:±（读数×1%+0.00040）

抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度

电容量范围：内施高压：3pF～60000pF/10kV60pF～1μF/0.5kV

外施高压：3pF～1.5μF/10kV60pF～30μF/0.5kV

分辨率：0.001pF，4位有效数字

tgδ范围：不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。

试验电流范围：10μA～5A

内施高压：设定电压范围：0.5～10kV

输出电流：200mA

升降压方式：连续平滑调节

电压精度：±(1.5%×读数+10V)

电压分辨率：1V

试验频率：45、50、55单频

频率精度：±0.01Hz

外施高压：正接线时试验电流1A，工频或变频40-70Hz

反接线时试验电流10kV/1A，工频或变频40-70Hz

CVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A

测量时间：约40s，与测量方式有关

输入电源：180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市电或发电机供电

计算机接口：标准RS232接口

打印机：炜煌A7热敏微型打印机

环境温度：-10℃～50℃

相对湿度：<90%