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主营：静摩擦系数测试仪，杂质度过滤机，密封性测试仪，薄膜过滤器，油罐底板焊缝真空检漏盒，可燃气体检测仪，液氨取样器，身高体重测量仪，活性炭装填密度测定仪，浮游生物培养器，二*生物样品转移箱，参比电*，浮游生物网，化学试剂沸点测试仪，不容度指数搅拌器，啤酒饮料二氧化碳测定仪，活性炭强度测定仪，糖化器，着火点测定仪，四氯化碳吸附率测定仪，淀粉含量测定仪，*弯曲梁实验装置，重力式采泥器，电焊条偏心仪，玻璃瓶环切机，炭块取样机，门塞尔土壤比色卡，玻璃应力镜，振实密度测定仪，腐蚀坑深度仪，锅炉水位报警器，液氯采样钢瓶，颗粒强度测定仪，交直流毫伏表，甲苯不容物测定仪，焦炭水分分析仪

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薄膜方块电阻测试仪原理

发布时间：2022-06-27

薄膜方块电阻测试仪主要用来测量硅外延层、扩散层和离子注入层、导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻。它由电气测量部份（简称：主机）、测试架、四探针头及测量软件组成
测量范围
10-5 ------1.9*105 Ω?cm
10-4------1.9*104 Ω?cm
可测硅棒尺寸：，长度300mm；直径20mm（**按用户要求%改）
输出电流：DC0.001-100mA 五档连续可调测量范围：0-199.99mV
灵敏度： 10μA
输入阻抗：1000ΩM
电阻测量误差：%档均低于±0.05%
供电电源：AC 220V ±10% 50/60Hz.
使用环境：温度：23±2℃ 相对温度：≤65%

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