GDW3-LT1C高频光电导少子寿命测试仪/高频光电寿命测试仪 LT-1C τ:5～6000μs ρ＞0.1Ω•cm

太阳能 硅片寿命 配已知寿命样片、配示波器

产品简介 
1、用途
用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形*严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶的重要检测项目。
2、  设备组成
2.1、光脉冲发生装置
重复频率＞25次/s      脉宽＞60μｓ          光脉冲关断时间＜1μｓ
红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶）   脉冲电流：5A～20A
如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.2、高频源
频率：30MHz       低输出阻抗      输出功率＞1W
2.3、放大器和检波器
频率响应：2Hz～2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器：频带宽度不低于10MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。
3、测量范围
可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥0.1Ω·㎝（欧姆·厘米）
寿命值的测量范围：5～6000μｓ（微秒）

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