日本HIOKI日置阻抗分析仪IM3570，联系周浩洁 日本HIOKI日置阻抗分析仪IM3570，联系周浩洁 日本HIOKI日置阻抗分析仪IM3570，联系周浩洁
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 ● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 ● LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量 ● 基本精度±0.08%的高精度测量 ● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量 ● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量 ● 可以用于无线充电评价系统TS2400 主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。