企业信息
第8年
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新闻详情
日本进口大塚的椭圆偏光测量仪FE-5000S(PXM28)
日期:2024-07-16 17:40
浏览次数:1008
摘要:使用环境
设置场所:屋内设置(避免太阳光直射)
周围环境:无倾斜,异常震动,灰尘,有害气体,温度变动,
电源变动,磁场噪音,不会接触液体,没有起火
物质。
高度界限:标准高度2000m
周围温度:20-30℃(无剧烈的温度变化)
相对湿度:30-80%(无结露)
噪 音:60dB以下(距离设备测量1m的距离测量)
日本进口大塚的椭圆偏光量测仪FE-5000S(PXM28)
显微分光膜厚仪
![](http://yt.yzimgs.com/ComFolder/200074894/image/202009/202009221515219691.png)
![](http://yt.yzimgs.com/ComFolder/200074894/image/202009/202009221515214581.png)
对应多种膜的解析计算方法
● *小二乘法
通过优良反射率测量和薄膜模拟的fitting,可解析目标膜的膜厚和
光学常数(n:折射率,k:消光系数)。
也可对应层叠结构
● *适合法
在设定的膜厚范围内,进行薄膜模拟,可自动演算光谱形状*高
膜厚值的手法。可对应多层level的层叠结构。
● 周期解析(FFT法)
通过傅里叶变换计算光干涉的光谱波形的周期性,可自动演算膜厚的
膜厚值。即便没有基板信息,也可解析,此外,还能对应多层level
的层叠结构
● P(V 峰谷法)
以光干涉法为原理的解析手法。通过输入单层膜的折射率,即便没
基板信息,可以自动演算膜厚值。
可在测量的反射率的峰值(谷值)在2个以上时使用。
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