企业信息
第8年
- 入驻时间： 2016-09-29
- 联系人：彭小姐
- 电话：010-67868591
-
联系时，请说明易展网看到的
- Email：bj@tamasaki.com
- MIYAWAKI日本
- YUTAKA日本
- IZUMIDENNETU...
- KOTOHIRA琴平
- GASTEC日本
- OKANO冈野制作所
- SINAGAWA品川
- TOKU东空
- LINE 莱茵
- HISHIKO菱小
- TSUBOSAKA壶板电...
- MEITOU名藤化工
- ANALYZER
- GRAPHTEC图技
- HIOKI日置
- DAIICHIKEIKI...
- KORI古里精机
- Mother Tool母...
- ARK TECH方舟
- RIKEN KEIKI理...
- AKAMATSU赤松电机
- SERIC赛瑞克
- SEIWAOPT清河光学
- SAIKA佐加
- MOTOYAMA本山
- POWREX派沃斯
- TAIWA台和
- MITSUIEC 三井电...
- FUJIHIRA富士平工
- MINATO CONCE...
- MEIWAFOSIS日本
- SONOTEC超音波
- HANATSUKA花塚
- YOSHIDA吉田制作
- SOMA相马光学
- CHO-ONPA超音波工...
- RIGO离合社
- KSK加藤
- JAI分析工业
- KIMMON金门科哈
- EDDIO哈拉电子
- KAWAKI川木柿
- NTS日本
- YAZAWA矢泽科学
- SHODENSHA松电社
- JULABO优莱博
- SEKONIC世康尼克
- TEXIO德士
- SANWA 三和电气
- NAKAKEI中庆
- KONAN中村
- ACT阿克特
- NAKANISHI中西
- HOZAN宝山
- MIGHTY威力
- KONSEI近藤制作所
- ANTON PAAR安东...
- Japan sensor...
- KIKOH木子技研
- SHINOH新樱电气
产品详情
简单介绍：
该物镜在 2000 nm 处保持 75% 或更高的透射率。
详情介绍：
近红外物镜 2000nm
PEIR2000HR 10X、20X、50X
近红外 2000nm 物镜
该物镜在 2000 nm 处保持 75% 或更高的透射率。
在半导体器件的故障分析中，可有效检测由于漏电流引起的超弱光发射。
高度集成的多层有线半导体器件可以通过从芯片背面通过硅传输的红外光进行观察。
* 支持硅校正。 请联系我们。
近红外 2000nm 物镜
该物镜在 2000 nm 处保持 75% 或更高的透射率。
在半导体器件的故障分析中，可有效检测由于漏电流引起的超弱光发射。
高度集成的多层有线半导体器件可以通过从芯片背面通过硅传输的红外光进行观察。
* 支持硅校正。 请联系我们。
| 型 | PE IR 10X 2000 HRS | PE IR 20X 2000 HRS | PE IR 50X 2000 HRS |
|---|---|---|---|
| 放大 | 10 倍 | 20 倍 | 50 倍 |
| 工作距离 | 20毫米 | 10毫米 | 10毫米 |
| 焦距 （f） | 20毫米 | 10毫米 | 4毫米 |
| 不适用 | 0.33 | 0.6 | 0.7 |
| 分辨率 | 2.9微米 | 1.6微米 | 1.4微米 |
| 景深 （±D.F） | 7.1微米 | 2.1微米 | 1.5微米 |
| 透光率：1300nm | 80%以上 | 80%以上 | 80%以上 |
| 透光率：2000nm | 75%以上 | 75%以上 | 75%以上 |
| 重量 | 490克 | 610克 | 560克 |
| 注意：分辨率和焦深使用λ = 1550nm的波长计算。 | 分辨率 = 0.61x1.55（λ）/NA，焦深 ±D（μm） = 1.55（λ）/[2（NA）2] |
