15J、15JE测量显微镜
用途： 结构简单、操作方便和经久耐用的测量显微镜，适用范围广泛，主要用途如下：
1.坐标中测定长度，例如：孔距、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、内、外圆直径等。
2.转动度盘测定角度，例如：样板、量规钻孔模板及几何形状复杂的零件进行外形和角度测量。
3.用作观察显微镜，以比较法检查工作表面光洁度、鉴定冶金工业的矿石标本、检验纤维及印刷、照相和电子行业的细微作业等。
技术参数
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物镜 |
放大倍率/数值孔径 |
2.5×/0.08 |
10×/0.25 |
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焦距 |
43.4mm |
17.13mm |
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目镜WBF (带坐标线) |
放大倍率 |
10× |
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焦距 |
25mm |
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工作距离 |
58.84mm |
7.81mm |
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视场直径 |
5.6mm |
1.4mm |
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总放大倍率 |
25× |
100× |
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测量工作台 |
测量范围X-Y：50x13mm 刻度盘分度0o-360o 分度值6′ |
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分辨率 |
15J |
0.01mm （测微鼓读数） |
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15JE |
0.001mm （数显读数） |
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测量精度 |
仪器示值误差±（5+L/15）μm L－被测件长度mm （包括测量误差和仪器系统误差） |
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仪器尺寸 |
测量工作台直径120mm 玻璃工作台直径80mm 测量台面到物镜距离80mm |
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包装规格 |
重量10Kg 体积325x262x220mm |
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15J、15JE
15J、15JE测量显微镜
