产品名称：107J系列研究型测量显微镜

107J系列研究型测量显微镜

型号	名称	总放大倍数	测量范围	分辨率	精度	备注
107J	研究型测量显微镜	40X-400X	工作台150*150mm 测量范围:X-Y:50*50mm	机械读数:0.001	2-3微米以内
107JA	研究型测量显微镜	40X-400X	工作台150*150mm 测量范围:X-Y:50*50mm	数显读数:0.0005	2-3微米以内
107JC	研究型测量显微镜	40X-400X	工作台150*150mm 测量范围:X-Y:50*50mm	数显读数:0.0005	2-3微米以内
107JV	研究型测量显微镜	40X-400X	工作台150*150mm 测量范围:X-Y:50*50mm	数显读数:0.0005	2-3微米以内	三维测量
107JPC	研究型测量显微镜	40X-400X	工作台150*150mm 测量范围:X-Y:50*50mm	数显读数:0.0005	2-3微米以内	成像系统,加测量软件
107JPCV	研究型测量显微镜	40X-400X	工作台150*150mm 测量范围:X-Y:50*50mm	数显读数:0.0005	2-3微米以内	三维测量 成像系统,加测量软件

小型、多用途的数字式107J精密测量显微镜，配备二维测量计算机操作系统（107JPC），对一些难以测量的，如：圆、弧、同轴、平行、相交、形状和位置关系及虚拟量等，都能够自动、快速地得出结果及输出报告。结构紧凑、成像清晰、精度高，可作二维坐标的精密测量，及Z向的辅助测量。仪器带有可调光的落射、透射和辅助照明装置及多种滤色镜，给各种复杂形状的测量工作带来很大方便。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸，以及其它精密零件测。广泛地适用于计量室，生产作业线以及科学研究等部门。   技术参数 型号 107J 测量工作台 150 × 150 mm；测量范围：X - Y：50 × 50 mm 旋转平台 任意360° ；游标格值：5′；玻璃平台Φ72 mm 测量系统 X-Y向坐标光栅数显测量系统计算机 二维数据测量操作系统 分辨率：0.001 mm（数显） 测量精度 仪器示值误差 ±（1 + L /25）μm L = 被测件长度（mm） 仪器示值误差：包括测量误差和仪器系统误差 环境温度变化：20 ºC ± 3 ºC 镜筒 双目镜筒：倾角45° 瞳距屈光度可调；升降范围：粗动：90 mm 微调：2 mm 照明系统 透射、反射和辅助照明12W/8V；独立调光 带滤光片 选配件 Z向辅助测量：0.001 mm / 2 mm   型号 107JA 107JC 测量工作台 150×150mm测量范围X-Y：50×50mm 旋转平台 任意360°游标格值：5′玻璃平台Φ72mm 读数系统 日本三丰Mitutoyo数显测微手轮分辨率：0.001mm公英制转换 光栅手轮数显表分辨率：0.001mm公英制转换 测量精度 仪器示值误差±（1+L/25）μmL－被测长度(mm) 仪器示值误差：包括测量误差和仪器系统误差(环境温度变化：20ºC±3ºC) 镜筒 双目镜筒：倾角45°瞳距屈光度可调升降范围：粗动：90mm微调：2mm 照明系统 透射、同轴反射和辅助照明12W/8V可调光带滤光片   型号 107JPC 107JPCV/JV 测量工作台 150 × 150 mm  测量范围 X - Y：50 × 50 mm 旋转平台 任意360°  游标格值：5′  玻璃平台Φ72 mm 读数系统 日本三丰Mitutoyo 数显测微手轮 分辨率：0.001mm公英制转换 测量精度 仪器示值误差 ±（2 + L / 25）μm  L－被测长度mm 光学系统 物镜：0.7×～4.5× 连续变倍  十字线适配镜0.5× 图像系统 图像传感摄像机：日本Watec 221S (彩色1/2″CCD) 照明系统 透射照明：卤素灯20W / 12V 可调光 反射照明：环形LED可调光照明器3W / 90V-240V 物镜至工作台 200 mm (*大) 镜筒升降范围 60 mm   物、目镜和放大倍率（表） 物镜 PL 分划目镜WBF 工作距离 视场直径 总放大倍率 放大倍率/ 数值孔径 焦距 放大倍率 焦距 4×/ 0.1 28.8mm 10× 25 mm 17.5mm Φ 4.mm 40× 10×/ 0.25 15.4mm 11.6mm Φ 1mm 100× 40×/ 0.65 4.4mm 0.66mm Φ 0.45mm 400×       107JA   107JC   107JPC   107JPCV/JV

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107J系列研究型测量显微镜