CH-1S系列 塑料薄膜测厚仪,
适用于对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定。
执行标准:GB/T6672-2001MODISO4593-1993
技术参数
型号 |
CH-1-S |
CH-1-ST |
CH-12.7-STSX |
名称 |
千分塑料簿膜薄片手式测厚仪 |
千分塑料簿膜薄片台式测厚仪 |
千分数显塑料簿膜薄片台式测厚仪 |
分度值 |
0.001mm |
0.001mm |
0.001mm |
测量范围与准确度 |
0mm~1mm ≤0.005mm |
0mm~1mm ≤0.005mm |
0mm~12.7mm ≤0.005mm |
主要用途 |
方便携带至生产现场测量塑料薄膜和薄片的厚度(*大测量深度为45mm) |
适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(*大测量深度为80mm) |
适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(*大测量深度为80mm) |
执行标准 |
GB/T6672-2001MODISO4593-1993 |
GB/T6672-2001MODISO4593-1993 |
GB/T6672-2001MODISO4593-1993 |
CH-1-S手式千分测厚仪
CH-1-ST台式千分测厚仪
CH-12.7-STSX数显薄膜薄片测厚仪
CH-1S
CH-1S系列 塑料薄膜测厚仪
CH1S