光电直读光谱仪WLD-1C1/3C1北分瑞利
WLD-XC1型光电直读光谱仪是北京瑞利分析仪器有限公司(原北京**光学仪器厂)积30多年生产经验及用户使用实践，经不断改进提高，*新提供给用户的全新仪器。
WLD-1C1型光电直读光谱仪(非真空型)适合对有色金属(如铝、铝合金、镁合金、铜等)多种基体进行快速定量分析。
WLD-3C1型光电直读光谱仪(真空型)适合对黑色金属(如高合金钢、合金铸铁、镍基)及有色金属(如铝、铜及合金、镁合金)等多种基体进行快速定量分析。该型号仪器除具备系列老产品(750型)分析精密度高、性能稳定等优点外，特别对各类铸造铝合金，更具有良好的分析效果。
性能特点
● 多通道检测方式，分析速度快，样品上机15-50秒钟打印结果。
● 结构合理，机械性能稳定，24h光学系统漂移量小于10μm。
● 密封充氮气光学系统用于分析波长小于230nm紫外波长的元素。
● 程控变频火花光源，性能稳定，适用范围广。
● 测量系统可靠，有效降低故障率。
● 分段积分的测量方式，分析动态范围宽。
● 用光导纤维传递信息，有效抑制了电磁干扰。
● Windows操作系统应用软件，操作简单方便。
● 可根据用户的不同要求增加通道。
主要技术指标：
1、 激发光源
程控变频火花光源
电源电压：AC 50Hz、220V±10%
输出功率：400VA
频率：100HZ~800HZ八档可选
引燃：脉冲幅度：10KV
2、光学系统：
分析波段范围：200-550nm（WLD-1C1）；175～450nm(WLD-3C1)
色散率：0.55nm/mm(**）
凹面光栅：
曲率半径 750mm
刻划密度：2400线/mm
入射狭缝宽度：20μm
出射狭缝宽度：50μm、75μm
安装通道数：36个（*多）
分光仪局部恒温：30℃±0.1℃
3、 测控系统
测量方式：分段积分
测量重现性：RSD≤0.2%
光电倍增管高压电源：电压：-1000V 稳定度：8小时优于0.5%
4、 数据处理系统
硬件配置：品牌计算机（国内联保）扩展CAN即可 24针80列中英文打印机
应用软件：为windows系统下的中文操作软件，操作方便简洁。同时，完全从用户角度考虑，适合分析人员的操作习惯。分析软件具有光谱分析的基本分析功能
外形尺寸：
主机：1500*1000*1200（长宽高）
总重量：约480kg
主要分析元素及测量范围（未列元素协商解决）
|
元素 |
含量范围% |
|
元素 |
含量范围% |
|
Fe |
基体 |
|
Ti |
0.001-3.00 |
|
P |
0.001-0.50 |
|
Co |
0.01-15.00 |
|
S |
0.001-0.50 |
|
Al |
基体 |
|
B |
0.001-0.50 |
|
Mg |
基体 |
|
C |
0.001-4.00 |
|
Pb |
0.001-10.00 |
|
Mo |
0.01-5.00 |
|
Zr |
0.001-3.00 |
|
W |
0.01-20.00 |
|
Nb |
0.001-3.00 |
|
Si |
0.001-25.00 |
|
Bi |
0.001-0.50 |
|
Mn |
0.002-20.00 |
|
Sn |
0.001-10.00 |
|
元素 |
含量范围% |
|
元素 |
含量范围% |
|
Cr |
0.005-30.00 |
|
Sb |
0.001-0.50 |
|
Ni |
0.005-30.00 |
|
As |
0.001-0.30 |
|
Cu |
基体 |
|
La |
0.001-0.50 |
|
V |
0.002-3.00 |
|
Ce |
0.001-0.50 |
|
Cd |
0.001-0.50 |
|
Be |
0.001-0.50 |
|
Sr |
0.001-0.50 |
|
Ga |
0.001-0.50 |
|
Nd |
0.001-0.50 |
|
Pr |
0.001-0.50 |
|
Zn |
0.01-40.00 |
|
Sm |
0.001-0.50 |
试验室条件：
环境：温度15-25℃，相对温度不大于70%
氩气纯度：≥99.999%
电源：AC50Hz
分两组供电 激发光源 单相220V±10%1KVA
WLD-1C1主机 单相 220V±10%1KVA
WLD-3C1主机 220V±10%1.5KVA
测量系统0.5KVA
试验室面积≥10平方米
