CM90 科研级.薄膜测厚仪
CM90 测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
该设备满足多项国家和国际标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
适用于薄膜、薄片、隔膜，纸张、纸板，箔片、硅片，金属片，纺织材料，固体电绝缘体，无纺布材料，如尿不湿、卫生巾片材等。
扩展应用（需特殊附件或改制）量程扩展至5mm，10mm，适用于测试薄膜、片材的厚度曲面测量头，满足特殊场合的厚度测试。
产品特点
·严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
·测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
·支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
·系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
·实时显示测量结果的*大值、*小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
·配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
·系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
·系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
·标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输
·支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告
技术参数
测试范围：0~2 mm（常规）；0~6 mm；12 mm（可选）
分辨率：0.1μm
测量速度：10 次/min （可调）
测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0~1000 mm
进样速度：0.1~99.9 mm/s
电源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461×334×357mm
净重：32 kg
标准配置：主机、标准量块一件
选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码
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CM90 科研级.薄膜测厚仪
