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温度冲击热流仪工作模式及减振措施
    温度冲击热流仪适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯（如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。

工作模式：

    A）2路主空气管输出，由分布头分为8路供气，带2套1拖8 系统

    B) 2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode

    测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温）

减振措施

    1、压缩机：弹簧减振。

    2、制冷系统：特种橡胶垫整体二次减振；制冷系统管路采用增加R和弯头的方式避免因振动和温度的变化引起的铜管的变型，从而造成制冷系统管路破裂

尊敬的客户：

　　本公司还有温度循环热流仪、温度冲击系统、高低温冲击测试机等产品，您可以通过网页拨打本公司的服务电话了解更多产品的详细信息，至善至美的服务是我们的追求，欢迎新老客户放心选购自己心仪产品，我们将竭诚为您服务！
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