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高低温冲击测试机功能测试, 是测试芯片的参数、指针、功能, 用老话说就是看你十月怀胎生下来的宝贝是骡子是马拉出来遛遛. 性能测试, 由于芯片在生产制造过程中, 有无数可能的引入缺陷的步骤, 即使是同一批晶圆和封装成品, 芯片也各有好坏, 所以需要进行筛选。

芯片可靠性测试具体做法如下:

1.将芯片放置于已做好的工装中；

2.将sensor一端连接热流罩上对应接口, 一端与芯片表面接触；

3.将高低温冲击测试机热流罩转到工装平台并下压固定；

4.启动高低温冲击机加热至需要测试的温度点；

5.启动芯片测试设备对芯片在-45度及84度下进行性能测试并记录数据；

尊敬的客户：

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