日本Otsuka大塚电子株式会社|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司中国代理店

日期：2024-07-31 01:12

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摘要：日本Otsuka大塚电子株式会社建立与1970年5月，主要事业内容（一）科学仪器、光学仪器、医疗器械、工业测量仪器及其零部件及其附件的开发、制造、销售、修理、进出口。（2）试剂的制造、销售、进出口（三）支持医疗器械经营许可证的取得和医疗器械生产、上市许可申请（4）科学仪器、光学仪器、使用工业测量仪器进行委托测量并提供数据（5）与前项相关的所有业务继续挑战可能性的极限。没有限制。克服它之后，一个巨大的世界正在蔓延。大冢电子用技术用光解决世界问题。这就是我们的使...

大冢电子以“大冢人创造新产品，改善全球健康”为企业理念，开发、制造和销售医学、测量、物理和化学领域的设备和设备，作为一家用光诊断事物的公司。

自 1970 年成立以来，我们一直在探索患者、医疗保健专业人员、公司和研究机构真正在寻找什么，并一直在思考“只有大冢电子能做什么”和“只有大冢电子能做什么”来解决他们的需求。我们充分利用“测量光的颜色和亮度、测量材料的形状和厚度、测量颗粒的大小和检查人们的健康”等光测量技术，创造了独特的产品。

随着世界各地人们的生活不断变化，我们认为，为了应对这些变化并继续提供更有价值的产品，我们的每一位员工都必须融入不同的思想和知识并相互认可。我们所有的员工都将接受挑战，创造尚未被研究过的技术，没有人设想过的技术。

我们将继续以“与Hikari一起开创光明未来的公司”为愿景，以“通过利用光的分析技术支持全世界人民的健康和生活”为使命，创造和提供新的价值，为社会做出贡献。

继承大冢集团的DNA“示范与创造”，我们每天都在努力实践“只有大冢才能做到的”和“只有大冢能做到的”。大冢电子将继续通过**和创造性的产品（设备）和服务，在健康和生活领域支持世界各地人们的生活。

ME设备: 红外光谱仪 POConePlus; 分立式临床生化分析仪 Hemotect NS-Prime; 荧光**层析扫描仪 DiaScan α; 血细胞去除系统 Adamonitor SC

分析仪器: Zeta 电位和粒度测量系统 ELSZneoSE; Zeta 电位、粒径和分子量测量系统 ELSZneo; 多分析物纳米粒度测量系统nanoSAQLA（带自动进样器AS50）; 多分析物纳米粒径测量系统nanoSAQLA; 聚合物相结构分析系统PP-1000; 动态光散射光度计 DLS-8000系列; 动态光散射光度计DLS-6500系列; 高灵敏度示差折光仪DRM-3000; 毛细管电泳系统 Agilent 7100

仪表: 光波场三维显微镜 MINUK; 显微光谱涂层测厚仪 OPTM series; 线扫描膜测厚仪®[直列式]; 线扫描膜厚仪®[离线型]; 多通道光谱仪 MCPD-9800/6800; MCPD系列嵌入式测厚头; MCPD系列在线薄膜评估系统; 延迟测量仪 RETS-100NX; OPTM系列嵌入式头型; 光谱干涉晶圆测厚仪SF-3; 涂层厚度监测仪 FE-300F; 内置涂层厚度监测仪; 椭偏光谱仪 FE-5000 series; 高灵敏度分光辐射计 HS-1000; 总光通量测量系统 HM/FM series; 分光光度测量系统 GP series; 光谱辐照度测量系统; 量子效率测量系统QE-2100; 高速LED光学特性监测仪LE系列; 彩色滤光片光谱分析仪 LCF series; 电芯间隙检测系统 RETS series; 高速延迟测量仪RE-200; 高灵敏度近红外量子效率测量系统QE-5000; 用于透射率和吸光度测量应用的多通道光谱仪 MCPD系列; 用于反射测量应用的多通道光谱仪 MCPD series; 用于发光和荧光应用的多通道光谱仪 MCPD系列; 用于颜色测量应用的多通道光谱仪 MCPD series; 用于涂层厚度测量应用的多通道光谱仪 MCPD系列; 单颗粒荧光诊断系统; 量子点评估系统; 加载端口兼容膜厚测量系统 GS-300; 超快光谱干涉测厚仪; 紫外分光总辐射通量测量系统; 紫外光谱分布测量系统; 紫外光谱辐照度测量系统; 紫外光谱仪

后续给大家详细介绍日本大塚电子的产品详情，也可以直接联系我们塔玛萨崎电子（苏州）有限公司中国代理店，支持选型及技术支持

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