美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT

日期：2024-12-23 14:22

浏览次数：160

摘要：美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,美国Filmetrics薄膜厚度仪F30,美国Filmetrics薄膜厚度仪F40,美国Filmetrics薄膜厚度仪F50,美国Filmetrics薄膜厚度仪F60,美国Filmetrics薄膜厚度仪F3-XXT

美国Filmetrics创建于 1995 年的美国 Filmetrics, Inc. 公司，以提供简单而价格合理的薄膜测量仪器为宗旨。在我们进入这个市场之前，薄膜测量仪器动辄就要 $50,000 美元或更多，并且需要高难度的培训。单次测量就要花长至一个小时时间。

美国Filmetrics的薄膜测量仪器是完善的微电子和软件技术的结晶。测量时间只需要几秒钟。操作人员仅需要简短的培训。

研究开发杂志
1997年，美国Filmetrics F30 产品当选 “研发 100 大奖”。
2002年，美国Filmetrics 的厚度成像技术当选 “研发 100 大奖”。
光子光谱杂志
1998年，美国Filmetrics F20 被评为 “25 项*佳新产品”。

美国Filmetrics对永续发展的承诺美国Filmetrics公司致力于永续发展的商业行为这里有一些范例关于我们近期所做的努力
美国Filmetrics已经安装了60kW的太阳能光伏在我们圣地牙哥的总部大楼。
美国Filmetrics总部大楼做的其他改善包含
具备两座3级电动车充电器，提供公众免费使用
随处可见的可调式LED照明光源，具备日光补获光照系统目前正在持续开发
封闭式的自行车储物柜供骑脚踏车上班的员工使用
评估备用电源的管理，我们放置了许多的定时器(24/7)在许多的办公室设备上(打印机，电池充电站，咖啡机等)
另外
美国Filmetrics已经将我们大多数的产品改用可回收的Korrvu包装材料
美国Filmetrics已经尽可能改用笔记型电脑与高效能桌上型电脑
美国Filmetrics将继续转换到更环保的产品材料。（例如，挤压成形的ABS与铝合金材料相比消耗较少的能源，同时重量上也较轻因而降低了货运重量
美国Filmetrics将会喜欢听到来自于你们的其他意见

F20 系列

世界上*畅销的台式薄膜厚度测量系统

只需按下一个按钮，您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上，我们每天从我们的客户学习更多的应用.

选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度（确定所需的波长范围）

美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT型号规格

型号	厚度范围*	波长范围
F20	15nm - 70µm	380-1050nm
F20-EXR	15nm - 250µm	380-1700nm
F20-NIR	100nm - 250µm	950-1700nm
F20-UV	1nm - 40µm	190-1100nm
F20-UVX	1nm - 250µm	190-1700nm
F20-XT	0.2µm - 450µm	1440-1690nm
F3-sX 系列	10µm - 3mm	960-1580nm

美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT厚度范围*

1nm

10nm

100nm

1µm

10µm

100µm

1mm

10mm

F20-UV

F20-UVX

F20

F20-EXR

F20-NIR

F20-XT

F3-sX 系列

美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT包含的内容：
集成光谱仪/光源装置
FILMeasure 8 软件
FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)
SS-3 样品平台及對應光纤电缆
参考材料
厚度标准
整平滤波器 (用于高反射基板)
备用灯

美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT常见的选购配件：

SampleCam

StageBase-XY10-Auto-100mm
多厚度硅基上的二氧化硅标准
可追溯的 NIST 厚度标准
接触探头

美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,美国Filmetrics薄膜厚度仪F30,美国Filmetrics薄膜厚度仪F40,美国Filmetrics薄膜厚度仪F50,美国Filmetrics薄膜厚度仪F60,美国Filmetrics薄膜厚度仪F3-XXT

美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT

下一篇： KOSAKA小坂台阶仪的基本原理
上一篇： HORIBA堀场科学仪器事业部