企业信息
第8年
- 入驻时间： 2017-03-06
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产品详情
简单介绍：
OTSUKA大冢-线扫描膜厚计
在线薄膜生产现场能够对薄膜的膜厚进行全幅、全长测量的装置。
通过在独自的分光干涉法中组合新开发的高精度膜厚演算处理技术，以每*短0.01秒的测定间隔，可以进行500mm宽(1台使用时)的薄膜的膜厚测定。OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计
详情介绍：
OTSUKA大冢-线扫描膜厚计
通过在独自的分光干涉法中组合新开发的高精度膜厚演算处理技术，以每*短0.01 秒的测定间隔，可以进行500mm宽(1台使用时)的薄膜的膜厚测定。
特长OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计
通过采用线扫描方式实现没有“脱落”的全长和全长胶卷检查
硬软件一起设计原创设计
因为是膜厚测定的专门制造厂，所以能够充实的支持
高精度测量（取得砖利）
高速可以测量
强制性强
宽的样本（可以在TD方向*大10m测量）
仕様
| 測定項目 | 膜厚（FFT） |
| 位置分解能 | 1mm |
| 測定幅 | 500mm |
| 波長範囲 | 400 ～ 920nm |
| 1素子当たりの波長幅 | 約 0.6nm |
| 膜厚測定範囲 | 2 ～ 250μm |
| 測定間隔 | 10msec ～ |
測定例
500mm幅の包装用フィルムの場合
