企业信息
第8年
- 入驻时间： 2017-03-06
- 联系人：张婧
- 电话：0512-67089211
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产品详情
简单介绍：
OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计
详情介绍：
FE-5000
特 長
- フィルムなどの面内膜厚ムラ検査、**を高速・高精度に測定
- ハード・ソフト共にオリジナル設計
- 膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
- 分光測定による高精度な膜厚測定（特許取得）
- 高速に測定が可能（500万ポイント以上/分）OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计
仕様
| 測定項目 | 膜厚（FFT） |
| 位置分解能 | 1mm 以下 |
| 測定サイズ | *大250mm幅 × 長さ制限なし |
| 波長範囲 | 400 ～ 920nm |
| 1素子当たりの波長幅 | 約 0.6nm |
| 膜厚測定範囲 | 2 ～ 250μm |
| 測定間隔 | 10msec ～ |
| 装置サイズ | W600 × D680 × H1250mm |
測定例
250mm幅のフィルムの場合
