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OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统
紫外LED的配光特性.。
·根据放射强度/放射光照度的配光评价。
·通过分光配光评价每个波长的放射强度。
使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。
特长:
通过分光配光对紫外光进行高精度测定。
评估光束分布到紫外光的*大光度、光束打开和光束通量。
覆盖从紫外到可见的波长范围。
支持从LED芯片到模块、应用等多种样本。
软件集中控制电源和测量仪表
测试项目:
配光-紫外辐射强度或辐射强度下的角度分布。
*大光度,光束打开,光束通量。
辐照度、辐射强度和辐射强度。
全光束。
分钟光亮数据。
以光分布测量系统为准的测量项目。
全光束,色度坐标xy,uv,u‘v。
相关色温、Duv、主波长、刺激纯度。
演色性评价Ra,R1~R15。
峰值波长、半宽度
OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000
*1 : 測定時にサンプルを設置する向き。
ベースダウン:水平面上への設置
ベースサイド:鉛直面上への設置
*2 : 配光測定における測定波長範囲は250~850nm
*3 : オプション品につきましては 全光束測定システム の仕様ページをご参照ください
装置構成
卓上タイプ装置。水平面に対してLEDチップを配置して測定します。
受光部側1軸、サンプル側1軸の駆動系です。
平面にサンプルが設置できるため測定再現性や位置調整が簡単です。
LEDチップなどサンプルが小さく取り付けが難しいものの測定に向いています。
卓上タイプ装置。一般的な配光装置の光学系です。
受光部とサンプル部の高さが同じでサンプル側が2軸の駆動系をもちます。
チップタイプから小型のモジュールサンプルまで広く取り扱えます。
大型装置。設置には暗室を一部屋使うほどの場所が必要です。
投光器などの大型で重量のある光源を測定する場合の装置です。
測定例
UV-LED是分光配光测定的结果.。
配光曲线以放射强度为基准进行描绘。
从通过配光测定得到的各θ的分光放射强度中,将球带系数法。
通过使用,能够取得从UV-LED被放射的分光全放射束.