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OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000
特长
拘泥于高精度测量。
能够瞬间测量**量子效率(**量子收获率)。
可以去除再激发荧光发光。
采用积分半球单元,实现明亮的光学系统。
低迷光多通道分光检测器可显著减少紫外区域中的混光。
使用专用软件轻松操作。
试样测量用单元的拆卸容易。
小巧。
通过使用分光器类型的激发光源可以选择任意波长。
通过在软件上指定激发波长的波长和步长值,可以进行自动测量。
拘泥于多功能。
适用于粉末、溶液、固体(薄膜)和薄膜试样。
丰富的分析功能
- 量子効率(量子収率)測定
- 励起波長依存性測定
- 発光スペクトル測定
- PL励起スペクトル測定
- EEM(Excitation Emission Matrix)測定
- LED、有機EL用蛍光体の量子効率(量子収率)測定
-
フィルム状試料の透過蛍光・反射蛍光の量子効率(量子収率)測定
- リモートフォスファー用蛍光体サンプルなど - 量子ドット、蛍光プローブ、生体分野、包接化合物等の蛍光測定
- 色素増感型太陽電池の量子効率(量子収率)測定
- 錯体化合物の測定
QE-2000は、積分半球を搭載しています。積分半球は、積分球(全球)に比べて下記のような特長があります
- 非発光部分(ホルダーなど)を外部に出すことができるため自己吸 収を小さく抑えることが可能であり、理想的な光学系を実現できる
- ミラーにより同一ポイントの照度が約2倍となり、感度よく測定がで きる
- 試料測定用セルの脱着が容易であり、積分球内部を傷めるリスクが 少ない
再励起蛍光発光を含んだ状態では、材料そのものの物性の観測ではなく、装置の特性を含んだ観測となり、真の物性値を求めることができません。QE-2000は、積分半球の利点を生かした再励起蛍光補正により、簡便にそして精度の高い測定をおこなうことができます。
従来の検出器(ポリクロメータ)では、紫外領域の迷光が高く検出されたため、量子効率(量子収率)の測定に向いているとは言えませんでした。大塚電子では、迷光を除去する技術を開発し、この問題を解決しました。QE-2000に搭載しているマルチチャンネル分光検出器は当社従来品に比 べて迷光量約1/5を実現しており、紫外域においても精度の高い測定を可能としています。
- オートサンプラー
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サンプルホルダ
①粉体測定用 SUS304製、石英カバーあり
②フィルム測定用 透過測定用サンプルホルダー
直観的にわかる、使い勝手のよい専用ソフトウェアです。試料測定用セルをセットするだけで、量子効率(量子収率)、励起スペクトルなどを簡単に測定することができます。