企业信息
第8年
- 入驻时间： 2017-03-06
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产品详情
简单介绍：
OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。
1从粒子的取出到测量的系统化。
可以测量10μm的粒子。
支持恒温到600°C的温度依赖性测量
OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
详情介绍：
OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
基于与NIMS共同开发的单粒子诊断法*的测定是可能的。
国立研究开发法人物质·材料研究机构。
基于与NIMS共同开发的单粒子诊断法*的测定是可能的。
国立研究开发法人物质·材料研究机构。
与广崎尚登法罗、武田隆史研究员的共同研究
荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。
1从粒子的取出到测量的系统化。
可以测量10μm的粒子。
支持恒温到600°C的温度依赖性测量
OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
测量项目。
量子效率(量子收获率)。
发光光谱。
激发光谱。
温度特性
単粒子診断法による測定の流れ
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| 蛍光体を合成後、励起光照射 | １粒子採取 | 蛍光体の特性を測定 |
励起・発光スペクトル測定顕微ユニット
量子効率（量子収率）測定ユニット
