SANKO山高膜厚仪NFE-0.6 塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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代理日本品牌：OTSUKA大塚电子（薄膜测厚仪、相位差膜设备等）、USHIO牛尾点光源、CCS检查光源、Aitec艾泰克...

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第8年

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产品名称：SANKO山高膜厚仪NFE-0.6
产品型号： NFE-0.6
产品厂商：SANKO山高
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简单介绍：

SANKO山高膜厚仪NFE-0.6 SANKO山高膜厚仪NFE-0.6 SANKO山高膜厚仪NFE-0.6

详情介绍：

SWT系列的探针

◆	由于探头兼容性，可以与主体自由组合地实现连接。
◆	根据测量对象连接铁基（电磁型）或有色金属基（涡流型）。
◆	可以根据应用和测量范围选择探针，例如适用于小块的测量的高稳定性探针等。


·Fe-2.5	·Fe-10	·L型探头

·Fe - 0.6笔	Fe-2.5 LwA	·V型探头适配器

■探头（另售）电磁感应式

模型	Fe - 2.5 * / Fe - 2.5 L.	铁 - 2.5 LwA	铁 - 0.6笔	FE-10	FE-20
测量方法	电磁感应式
测量范围	0至2.50毫米		0至600微米	0至10毫米	0至20毫米
显示分辨率	1μm： 0至999μm通过切换 0.1μm： 0至 400μm0.5μm： 400至500μm0.01mm ： 1.00至2.50 mm		1μm： 0至600μm通过切换 0.1μm： 0至400μm， 0.5μm：401至500μm	1μm： 0至999μm0.01mm ： 1至10 mm	1μm： 0至999μm0.01mm ： 1至5 mm 0.1 mm： 5至20 mm
测量精度（平滑面为）	0至100μm：±1μm 或指示值的±2％ 101μm至2.50 mm：±2％以内		0至100μm：±1μm 或在指示值101μm至600μm的±2％范围内：在指示值的±2％范围内	0至3 mm：±（5μm+指示值的3％） 3.01 mm或更大：±3％以内
探测器	1点恒压接触型，V切割2.5：φ15x 47 mm 2.5 L：18 x 22 x 58 mm	1点恒压接触式测量部分：约24×27×56 mm总长度约550至1,540 mm（伸缩式）	1点恒压接触式，V切口 φ5.6×92.2 mm	1点恒压接触式，V切口 φ20.4×47.1 mm	1点恒压接触型，V切口 φ35x 55 mm
选项* 2	V型探头适配器/ - -	- -	- -	- -	- -
附件	用于标准厚板测试的零板（用于铁）	用于标准厚板测试（用于铁）存储盒的零板	用于标准厚板测试的零板（用于铁）
测量对象	在铁·钢等磁性金属基底上涂覆，衬里，喷涂，电镀（不包括电解镀镍）等	在铁·钢，衬里等磁性金属基底上涂漆。无法到达的地方，用于涂膜厚度测量	在铁·钢，衬里和窄点等磁性金属块上涂层，用于测量小部件的涂层厚度	对于相对较厚的测量	用于重量测量

※探头为耐热性（约200℃）。请联系我们了解详情。
※2选项：V型探头适配器（3种可选：φ5以下，φ5~10，φ10~20）

■探头（另售）涡流型

模型	NFe - 2.0 * / NFe - 2.0 L	NFE-0.6	NFE-5	NFE-8
测量方法	涡流公式
测量范围	0至2.00毫米	0至0.6毫米	0至5毫米	0至8毫米
显示分辨率	1μm： 0至999μm通过切换 0.1μm： 0至 400μm0.5μm： 400至500μm0.01mm ： 1.00至2.00 mm	1μm： 0至600μm通过切换 0.1μm： 0至 400μm0.5μm： 400至500μm	1μm： 0至999μm0.01mm ： 1至5 mm	1μm： 0至999μm0.01mm ： 1至8 mm
测量精度（垂直于光滑表面测量）	0至100μm：±1μm 或±2％的指示值 101μm至2.00 mm：±2％以内	0至100μm：±1μm 或指示值的±2％ 101μm至600μm：±2％以内	0至3 mm：±（5μm+指示值的3％） 3.01 mm或更大：在指示值的±3％范围内
探测器	1点恒压接触型，V切割2.0：φ15x 47 mm 2.0 L：18 x 22 x 57 mm	1点恒压接触式，V切割 φ13×45.5 mm	1点恒压接触式，V切口 φ20.4×47.7 mm	1点恒压接触型，V切口 φ35x 59 mm
选项* 2	V型探头适配器/ - -	- -	- -	- -
附件	用于标准厚板测试的零板（用于有色金属）
测量对象	绝缘涂层在非磁性金属基底上，如铝，铜等。
测量对象	用于相对通用的测量对象	用于薄圆棒，细管，小件等的高稳定性	对于相对较厚的测量

※探头为耐热性（约200℃）。请联系我们了解详情。
※2选项：V型探头适配器（3种可选：φ5以下，φ5~10，φ10~20）

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产品名称：SANKO山高膜厚仪NFE-0.6