SANKO山高膜厚仪 SAMAC-FN 塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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简单介绍：

SANKO山高膜厚仪 SAMAC-FN SANKO山高膜厚仪 SAMAC-FN SANKO山高膜厚仪 SAMAC-FN

详情介绍：

·SAMAC-FN

·SAMAC-Pro

.Probe部分

测量方法	适用于电磁式和过电流型（基材自动识别）
测量范围	铁基：0~2.5mm 有色金属底座：0~2.0mm
显示分辨率	1μm的：0〜999μm（黑色和有色金属常见）由切换为0.1μm：0〜400μm的（黑色和有色金属公用） 0.5微米：400〜500微米（铁，非铁公用） 0.01毫米：1.00约2.5毫米（铁基质） 0.01毫米：1.00至2.0毫米（有色金属底座）
测量精度（垂直于光滑表面测量）	0〜100μm的：±1μm的（铁和非铁共同）或指示在±2％ 101μm〜2.5毫米：±2％或更小（铁基质） 101Myuemu〜2.0毫米：±2％（非铁基材料）
记忆	校准曲线（FN：1，Pro：10）测量值20,000点（Pro）
统计计算功能	在LCD（Pro）上显示统计数据
数据传输	USB输出（专业版）
探头（内置机身）	1点恒压接触式，带V型切口，φ13
电源	AAA电池（1.5 V x 2），自动断电
工作温度	0至40°C（非冷凝）
尺寸重量	63（W）×84（H）×30（D）mm，约125g
附件	标准厚板，测试零板（用于铁，有色金属），存储箱 Pro：USB线，USB驱动器（CD）

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产品名称：SANKO山高膜厚仪 SAMAC-FN