产品名称：日本大冢高速近场配光测量系统

高速近场配光测量系统 RH50

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高速近场配光测量系统RayHunter可用于评价光源单体和光学材料的配光。

RH50配光测量系统可对应微型LED等小型样品。

可与光学模拟软件配合使用，轻松且快速获取2n空间内全方位的光线。50×50mm以上的尺寸请参照RH300/RH600/RH1000。

产品信息

特点

・仅此一台即可搭载光学模拟软件。

・超高速测量样品原有的配光特性。*短17分钟！

・可轻松·简单的可设置花费时间的样品。

・样品静置状态下即可测量，无需改变亮灯情况。

◆ 桌上型设备，操作简单，节省空间

◆ 可搭载光学模拟软件

实测数据可藉由各种光学模拟软件转化为可利用的形式。

如、LightTools、ZEMAX、ASAP、TraceProなど

※LightTools、ZEMAX、ASAP、TracePro为其他公司的商标。

【 POINT 】 试作前即可把握不同距离下发光强度分布的差异。

◆ 超高速测量

【您的烦恼】想了解样品原有的详细光学特性，

 但是测定时间长，需要在暗室进行测量。

【RH50】 短时间内即可了解详细的光学特性。

＜传统方法＞ 2400分　→　＜RH50＞ 17分　约缩短1/140

◆ 位置调整简单

即使偏差数μm，可利用自动平台轻松调整。

◆ 测定时样品静止

检出器由2轴驱动，测定过程中样品保持静止。

【 POINT 】

・确保样品无破损

・不断线

・不改变亮灯位置

式样

*1：条件 X：±90°、Y：±90°、测量间隔为 1°

*2： 依据相对强度的数据

测量案例

微型LED测量案例

测量1次即可实现所有解析。

任意距离都可确认亮点·暗点。

可直接观测到在目标光线是否投射，非目标光线的方向。

测量案例

Near field配光测量的定义

Near filed配光测量可取得各多点的数据。