日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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代理日本品牌：OTSUKA大塚电子（薄膜测厚仪、相位差膜设备等）、USHIO牛尾点光源、CCS检查光源、Aitec艾泰克...

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第8年

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简单介绍：

日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400

详情介绍：

高速LED光学特性仪 LE series LED的光学特性评价可同产线的控制信号同步，能在线高速运行的装置。
LE-5400提供NG判定或级别分类等品质管理所必要的光学特性信息

产品信息

特　点

• 与产线的控制信号同步
• 通过光纤的自由的测试系统
• 实现*短2ms～的光谱测量（LE-5400）
• 同以往的产品相比，测量・演算・评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型

测量项目

*　亮度(kY)的值，因测量的LED和检出部的光学系不同，
只有在校准(距离、位置、方向)中有再现性时才算有效。

规格式样

	LE-Series
分光方式	光柵分光 F=3 f=135 mm
感光元件	CCD (电子制冷)
测量波长范围	380 ~ 960 nm	300 ~ 800 nm	330 ~ 1100 nm	350 ~ 930 nm
波长精度※1	±0.3 nm※2	±0.3 nm※2	±0.5 nm※2	±0.3 nm※2
光纤规格※3	长约2m，金属包覆，固定口径约12mm，与LED间的距离通常为2 ~ 8mm左右(视LED指向性而不同)
功率	*大100VA
尺寸	280（H） × 296（D） × 160（W）mm
重量	约10kg