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华测高温四探针测试仪研发成功上市 三年质保

日期:2024-12-23 16:53
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摘要:高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能,参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好,采用双屏蔽高频测试线缆,提高测试参数的**度,同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。

华测高温四探针测试仪 研发成功上市 三年质保


   高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能,参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好,采用双屏蔽高频测试线缆,提高测试参数的精度,同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。

      搭配Labview系统开发的Huacepro软件,具备弹性的自定义功能,可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置,符合功能材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的**;资料保存机制,当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中,不丢失试验数据,设备重新启动后可恢复原有试验数据。

      源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如,它具有更短的测试时间,通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性*大化。如果回读达到可编程容限的极限,那么该源就被钳位在此极限,从而提供错误保护。


仪器优势:

1、它可以匀速、阶梯(升\降温)、循环冲击,真空、气氛等多种的加热方式。

2、采用全新的移相触发技术,完全可实现控制精度波动±0.25°c 以内,温控度更高。

3、加热速度更快、更快,同时它可以提供了材料的更多的测试环境。

 








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