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半导体电迁移评价系统全新上市推广
日期：2025-01-27 15:57
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摘要：随着半导体器件小型化的进展，在过于苛刻的条件下评估电迁移变得至关重要。AEM 系列电迁移评估系统提供基于温度和电流应力（影响器械使用寿命的两个主要因素）的准确
测量以及用于确定判断器械寿命所需参数的分析软件。AEM系列旨在满足广泛的评估需求，从前沿评估到生产管理，提供增强的可操作性、优越的可靠性和简化的数据分析。
