高温四探针测试仪简介
高温四探针测试仪简介(1):
高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,配备10英寸触摸屏,软件可保存和打印数据,自动生成报表;本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
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双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
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H-800系列采用*******电子护系统,设备的**性;选用进口热电偶保定温度的采集有效值、采用***的SPWM电子升压技术,电压输出稳定性好。配备高精度电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。
H-800系統搭配Labview系统开发的hcpro软件,具备弹性的自定义功能,可进行电压、电流、温度、时间等设置,符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。
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高精准度的输出与测量规格,保障检测结果的品质,适用于新材料数据的检测。例如:多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料,也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。
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针对高温四探针测试仪做了多项**设计,测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的**;资料保存机制:当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中,不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。