半导体封闭材料I-V/C-V测试系统 Huace-8D 北京华测试验仪器有限公司

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先进功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。

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简单介绍：

半导体封闭材料I-V/C-V测试系统，华测双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。

详情介绍：

华测双面探针台

型号：Huace-8D

一、产品介绍

华测双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer ， LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。

二、优势特点

华测系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动；可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

1、满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等.

2、zui大可用于8英寸以内样品测试

3、同轴丝杠传动结构，线性移动

4、兼容高倍率金相显微镜，可微调移动

5、可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

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产品名称：半导体封闭材料I-V/C-V测试系统