♦ Axometrics偏光测定仪，为目前偏极化量测中*快速的测量系统。
♦ 快速测量快轴方位角度（Fast-axis Orientation）、相位延迟（Retardance）、偏光（Polarization）。
♦ 线性/椭圆/圆形的偏极化测量
♦ 多波长Retardance频谱的RO(400-800nm)
♦ 快速测量Biaxial Films Ro、Rth和 B。
♦ 具有旋转／倾斜机构，于测量时旋转角度可**掌握。
♦ 无须裁切待测物（Sample)
♦ 操作容易的软体介面
♦ 客制化测量模组组合
♦ 配合CCD影像系统及光学镜头，可测量各样品中微观区域内的各项参数
应用范围
♦ 多波长延迟片／相位差板（In Plate or Out of Plate）测量
♦ 偏光片（板）测量多层膜（Ro,Rth，B）
♦ 快轴方位角度测量（Fast Axis Orlentatlon)
♦ LCOS晶圆Retardance和电压特性关系的测量
♦ 液晶（LCD）、LCOS Cell Gap的测量。
♦ 液晶（LCD) Pretlltangle 的测量
♦ 3D Film的测量。（FPR)
♦ 多面向的LCD的量测（PSVA Multi一Domain)
Poincare sphere 显示可更清楚的了解光的偏极化状态可量测出不同波长(400-800nm)下的相位差值波长的分散性。
Rth 值测量差距时具有可调控之校正机制，精密度高。
高速的测量可帮助各种补偿膜的发展研究。
