Jandel公司提供的RM300测试单元结合可调节高度支架探头,可为各种各样的测量提供解决方案.
这种组合方式是目前jandel公司*受欢迎的产品.
该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径300mm高250mm的晶圆锭 (检测厚样品之前要咨询)。
Jandel圆柱形探头适用于由Four Dimensions制造的Jandel设备和设备。 如果需要，此探头可与适配器一起使用，以供买方制造的设备使用。
可测晶片直径
D≤250mm，（可选配D≤300mm，无需付费）
可测晶片厚度
H≤250mm,(可更厚，请咨询)
微动开关
防止探针不与样品接触时的电流流动
手动控制
探针接触和移动的简单杠杆操作
装配简单
RM300和四探针探头通过单线连接
系统配置
组成部件：
1.测试台一个
2.可调节高度主机一台
3.可调节高度轴杆一根
4.四探针探头一个
5.连接电缆一根
设备尺寸：
可调节高度测试台： W×L×H（mm）250×290×8（320×370×8，可选）
可调节高度探头组件：W×L×H（mm）60×280×80（60×330×80，可选）
可调节高度的轴杆:D（mm）19；L（mm）200（可定制*高高度到1000mm）
型号
针尖角（u）
压力（g）
间距（mm）
A
40
100
1
B
C
200
D
500
70
E
1.591
F
0.635
G
H
A-D型号和E-H型号
英国Jandel通用型四探针测试仪(China)販売店Nishizaki西崎商社
粤公网安备 51012402000291号
