日本日立HITACHI日立TM系列专用能谱仪，西崎成都强势供应

通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布

移动到指定位置，可实时确认其谱图

双屏显示

仅需选择图像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同时，实时显示点分析、线分析结果等多种分析。

超高的性能（hyper map）成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果

点分析

可根据点位置移动实时追踪谱图，轻松确认目标元素。

实时在线谱峰剥离面分布

分离出常规面分布图像中的谱峰重叠元素，并显示正确结果。

• 项目	内容
  探测器类型	硅漂移探测器
  探测器面积	30 mm2
  能量分辨率	148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα时不高于129 eV)
  可检测元素	B5～Cf98