在科技日新月异的今天,大规模集成电路(IC)作为信息技术的核心,其制造工艺的每一次进步都深刻影响着全球科技产业的格局。随着半导体技术的不断发展,氢气作为一种关键的工艺气体,在大规模集成电路制造中扮演着越来越重要的角色。然而,氢气的高纯度和稳定性要求很高,任何微量的杂质都可能对芯片的性能和可靠性造成严重影响。正是基于这一挑战,英国肖氏SHAW凭借其稳定的科技实力,推出了SDHmini-Ex微量水分析仪露点仪,为氢气在大规模集成电路制造中的应用提供了准确、可靠的保障,开启了氢气革新的新篇章。
准确控水,保障氢气高纯度
在大规模集成电路制造过程中,氢气被广泛应用于清洗、还原和钝化等关键步骤。这些步骤对氢气的纯度要求很高,即使微量的水分也可能导致芯片表面氧化、金属互连层腐蚀等问题。英国肖氏SHAW便携式SDHmini-Ex微量水分析仪露点仪以其稳定的准确度、稳定的灵敏度的测量能力,能够实时监测并准确控制氢气中的微量水分含量,确保氢气在制造过程中始终保持高纯度状态。这一技术的应用,很大地提高了大规模集成电路制造的成功率和产品质量,推动了半导体产业的快速发展。
技术创新,带领氢气应用新潮流
英国肖氏SHAW便携式SDHmini-Ex微量水分析仪露点仪的推出,是氢气应用技术领域的一次重要创新。该仪器采用了先进的传感技术和微电子技术,实现了对微量水分的快速、准确测量,并具有多种测量模式和宽测量范围,满足了不同制造工艺场景下的需求。同时,其便携化、智能化的设计使得操作人员能够轻松携带至生产现场进行实时监测,大大提高了工作效率和数据的准确性。这一技术的创新应用,不仅提升了氢气在大规模集成电路制造中的应用效果,还带领了氢气应用的新潮流,为半导体产业的可持续发展注入了新的动力。
赋能未来,共创科技新辉煌
随着全球对信息技术和半导体产业的依赖程度不断加深,氢气在大规模集成电路制造中的应用前景越来越广阔。英国肖氏SHAW便携式SDHmini-Ex微量水分析仪露点仪的准确赋能,为氢气应用提供了有力保障,推动了半导体制造技术的不断进步和产业升级。我们有理由相信,在科技的不断进步和创新驱动下,氢气将在大规模集成电路制造中发挥更加重要的作用,共同创造科技发展的新辉煌。同时,这也将为实现全球信息化、智能化和可持续发展目标做出重要贡献。
进口露点仪品牌英国肖氏SHAW手持露点仪SDHmini-EX参数介绍:
ATEX: II 1 G Ex ia IIC T4 Ga II 1 D Ex ia IIIB T60°C T50 80°C Da (-20℃ ≤ Ta ≤ +50℃)
IECEx: Ex ia IIC T4 Ga Ex ia IIIB T60°C T50 80°C Da (-20℃ ≤ Ta ≤ +50℃)、
自动校准:场校准/电子跨度检查装置通过简单的菜单指示进行操作
准确度:±2℃露点
重复性:优于±0.3℃露点
尺寸与重量
尺寸:97mm (w) x 147mm (d) x 211mm
(h(干燥头伸出为259mm))
重量:1.75kg
操作压力:*大0.3bar / 4psi
操作湿度(外部):*大- 95% RH,无冷凝
操作温度:-20℃ - +50℃
保存温度:-30℃ - +70℃
防水分类:IP66/NEMA 4X
显示:全彩色LCD大屏幕,分辨率320 x 240(24 bits)
电源:充电锂电池,包括电池充电器,电池寿命,两次充电间为150h,充电时间12h
数 据 记 录: 300,000个读数.数据和时间打印数据,保存是可选择测量单位,可下载到PC中
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