SRG-4000易拉盖刻线残余量测定仪

SRG-4000易拉盖刻线残余量测定仪CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

刻痕是易拉盖的重要部份， 刻线残留量太厚， 开罐时拉环容易断，残留量太小， 密封不安全， 出现意外被裂甚至泄漏。至今为止，采用景深显微镜的系统取决于操作人员的技术程度， 它们用一个外加的显示屏和测微计对刻线槽进行聚焦。由于不同的操作人员会对刻线不同地方聚焦，从而使得测量结果可重复性差， 通常会有明显的误差。主要产品：SADP露点仪|在线露点仪| 肖氏露点传感器|肖氏露点仪|顶空分析仪|药品残氧仪|压缩空气露点仪|Mocon透氧仪|膜康透湿仪|PBI顶空分析仪|露点仪品牌|露点仪价格|露点仪批发|Hitech氧气分析仪|Hitech热导气体分析仪|Hitech氢气分析仪|哈奇便携式氧分析仪|Hitech微量氧分析仪|恩特龙氧分析仪|Neutronics氧分析仪|露点仪厂家|代表处|分公司|子公司|办事处|总代理CMC微量水分析仪总代理

QBYV的易拉盖刻线检测仪， 采用创新的方法， 结合切边光学、激光技术及先进的软件处理， 减少测量过程中人为的影晌。该系统有效地改进了检测结果的可重复性， 系统直接与电脑联接，不需要任何外围设备如解码qi、外设显示屏， 因而大大减少了成本和维修费用。

SRG-4000易拉盖刻线残余量测定仪优势CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

● 采用激光聚焦技术

● 适用全部易拉盖型

● 可测量易拉盖的铆钉直径和厚度

SRG-4000易拉盖刻线残余量测定仪应用CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

● 饮料易拉盖刻痕残余尺寸测量

● 食品易拉盖刻痕残余尺寸测量

SRG-4000易拉盖刻线残余量测定仪技术参数CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

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