表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ
表面污染检测仪采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。仪器采用进口薄窗盖革探测器，具有较高的探测效率,适用于α、β辐射表面污染检测，X、γ辐射剂量率的监测。该检测仪是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α、β辐射表面污染检测或X、γ辐射防护监测的理想仪器。表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ 功能特点 表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ 采用进口薄型盖革探测器，探测效率高； 可测量α、β、γ、X射线； 探测和测定表面沾污； 调查环境污染； 测定惰性气体及其他低能放射性核素； 建筑装饰材料放射性测定； 超阈值报警； 声响频率指示放射性强度； 可设置剂量率报警阈值； 便携式，一体化设计，质量轻； 超低功耗设计； LCD液晶显示，会话式操作界面； 计数率显示CPM、CPS、μSv/h； 在操作放射性核素时监测可能存在的放射性暴露量； 阻塞报警； 电池失效报警。 技术指标 表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ 测量范围：CPM为0～300 000，CPS为0～5 000，µSv/h为0.01～1 000 探测器：MCA窗式盖革计数管（进口），有效直径为45 mm； 探测效率：Sr-90(546 keV，2.3 MeV βmax)约75%，Am-241(5.5 MeV α)约36% 灵 敏 度： 3500 CPM/ mR/hr（对于Cs-137） 仪器本底：每分钟计数≤60 CPM 相对基本误差：≤15% 供电电源：2节普通5号电池或充电电池 功耗：整机功耗约8 mW，电流≤4 mA 温度范围：相对湿度≤90%（40℃） 尺寸质量：0.3 kg；135 mm×70 mm×25 mm
1.一年质保，终身维护。 表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ 2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、 故障我们免费修理或更换。 3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应。 4.保证及时向用户以*优惠的价格提供所需的备品备件和易损件。