四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号：XCRTS-8
XCRTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的专用仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。 仪器采用了*新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。 本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。 技 术 指 标 ：
配置 四探针测试仪主机、探针台、四探针探头、
1.一年质保，终身维护。
2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、
故障我们免费修理或更换。
3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应。
4.保证及时向用户以*优惠的价格提供所需的备品备件和易损件。