双光栅微弱振动测量仪 型号：XC-HGS1
双光栅微弱振动测量仪在力学实验项目中用作音叉振动分析、微振幅（位移）、测量和研究光拍等。它是利用双光栅和光波的多普勒效应，把微弱的机械振动和位移量转变为相应的光拍频信号，通过光电探测器*终转换成电信号用于示波器观察和测量。本仪器采用分立式设计，可以自由组合光路，实验效果好，灵活性强，可增强学生的动手能力。 主要实验内容 1、音叉受迫振动基本原理； 2、激光多普勒原理； 3、微弱振动测量； 主要技术参数 1、半导体激光器：λ=635nm，5mW； 2、音叉谐振频率：500Hz左右； 3、信号发生器：DDS信号发生器，能产生方波和正弦波，频率20.001Hz～100000Hz连续可调；编码开关和数字按键联合进行频率调节，*小步进值0.001Hz，6位数码管显示；信号输出幅度0～20Vp-p可调，编码开关调节幅度大小；带主输出、波形输出和同步输出接口； 4、信号放大器：放大倍数通过数字电位器调节，输出接口有Q9示波器接口和52插座两种，前者用于示波器观测，后者用于驱动耳机或外部负载； 5、位移量分辨率：10μm； 6、耳机1只； 7、不含示波器。
1.一年质保，终身维护。 2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、 故障我们免费修理或更换。 3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应。 4.保证及时向用户以*优惠的价格提供所需的备品备件和易损件。 联系电话： 联系人：任小姐