AE8600是一种用于信号光谱分析的光谱分析仪,工作于600至1700nm波长范围内,分辨率可达20pm,测量功率+20dBm,功率灵敏度低至-90dBm。
AE8600丰富的专业APP应用,可用于半导体激光器(DFB、FP)光谱特征测量、WDM系统测试、EDFA系统参数测试、透过率和漂移测试。
AE8600优越的稳定性和可靠性,极快速的光谱扫描速度,开放的数据输出,可帮助您上乘应对来自光谱测试的各种挑战。
特点:
● 光谱范围 600nm-1700nm,适用于单模和多模光纤输入;
● 7 种波长分辨率设置 20pm~2nm,使用户可以根据测试需求选择值;
● 低至 -90dBm 的灵敏度设置;
● 73dB 超大动态范围,能够有效分离相近的光谱信号,执行测量;
● ±0.02nm 高波长精度,内置校准功���和波长参考源;
● 高杂散光抑制率,单色镜设计可以提供出色的杂散光抑制能力;
● WDM、光源、EDFA 等丰富的功能选择,满足从现场到工厂的各种应用;
● 无需预热,开机即可测量;
● 10.1 寸超大触屏操作,更好的客户体验;
● 齐全的用户数据接口,支持以太网、USB、SD 等;
● 根据客户需求建设自动化检测与测试系统。
技术参数:
光谱测量
●输入光纤:SM(9.5/125μm),MMF(50/125μm,62.5/125μm)
●波长范围:600~1700nm
●分辨率带宽:0.02~2nm
●分辨率设置:0.02nm,0.06nm.0.1nm,0.2nm,0.5nm,1nm,2nm
●波长可重复性:±0.005nm(1分钟)
●小采样分辨率:0.001nm
●波长线性度:±0.01nm(1520 to 1580nm)
±0.02nm(1450 to 1520nm,1580 to 1620nm)
●波长精度:1520 to 1620nm ±0.01nm
1450 to 1520nm ±0.04nm
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