AE8600是一种用于信号光谱分析的光谱分析仪，工作于600至1700nm波长范围内，分辨率可达20pm，测量功率+20dBm，功率灵敏度低至-90dBm。
AE8600丰富的专业APP应用，可用于半导体激光器（DFB、FP）光谱特征测量、WDM系统测试、EDFA系统参数测试、透过率和漂移测试。
AE8600优越的稳定性和可靠性，极快速的光谱扫描速度，开放的数据输出，可帮助您上乘应对来自光谱测试的各种挑战。
特点：
● 光谱范围 600nm-1700nm，适用于单模和多模光纤输入；
● 7 种波长分辨率设置 20pm~2nm，使用户可以根据测试需求选择值；
● 低至 -90dBm 的灵敏度设置；
● 73dB 超大动态范围，能够有效分离相近的光谱信号，执行测量；
● ±0.02nm 高波长精度，内置校准功���和波长参考源；
● 高杂散光抑制率，单色镜设计可以提供出色的杂散光抑制能力；
● WDM、光源、EDFA 等丰富的功能选择，满足从现场到工厂的各种应用；
● 无需预热，开机即可测量；
● 10.1 寸超大触屏操作，更好的客户体验；
● 齐全的用户数据接口，支持以太网、USB、SD 等；
● 根据客户需求建设自动化检测与测试系统。
技术参数：
光谱测量
●输入光纤：SM(9.5/125μm),MMF(50/125μm,62.5/125μm)
●波长范围：600～1700nm
●分辨率带宽：0.02～2nm
●分辨率设置：0.02nm,0.06nm.0.1nm,0.2nm,0.5nm,1nm,2nm
●波长可重复性：±0.005nm（1分钟）
●小采样分辨率：0.001nm
●波长线性度：±0.01nm(1520 to 1580nm)
±0.02nm(1450 to 1520nm,1580 to 1620nm)
●波长精度：1520 to 1620nm ±0.01nm
1450 to 1520nm ±0.04nm
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