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KOBRA-WR,测定装置,日本王子计测机器
相位差测量装置
KOBRA系列
通过常规进行双折射的分子取向评估,但是用折射计或偏振显微镜测量是麻烦的,并且难以**测量。
KOBRA系列
可以通过简单的操作快速而准确地测量相位差,双折射,方位角(折射率的*大方向)。
1.测量范围宽···1nm〜2·
重复性高·±1nm·
操作性优异
4。实现软件
测量对象:
■延迟膜,Placel,偏光板
■光盘
■液晶盒
■磁带基膜
■收缩膜
■其他通用膜
应用:
■研究和光学功能膜的开发,质量控制
■拉伸膜(三维折射率,表面取向)的取向评价
■包装膜的热收缩,抗撕裂性的评价等
■液晶单元,所述波长分散性的评价的扭曲角
■光学元件的透射椭圆偏振光的评价
设备名称
相位差/椭圆
测量装置
椭圆偏振测量装置
相位差测量装置
带有进样
器的相位差测量装置
设备类型
KOBRA-HB系列
KOBRA-WPR
KOBRA-WR
KOBRA-WFD
测量方法
平行尼科尔旋转方法
旋转偏振器法
平行尼科尔光谱法
平行尼科尔旋转法
旋转式偏振片法
平行尼科尔旋转方法
平行尼科尔旋转方法
测量波长
450,500,550,590,630,680nm 400-800nm
(光谱学)
450,500,550,590,630,750nm
样本大小
垂直入射角测定:30mm见方以上
入射角依存性:30mm〜40×50mm,t 3以下
轮廓测量:
宽度50mm×长度可选
入射角依赖性:
30mm至40
×50mm
,
t 3或更小
测量区域
33毫米
2
(5.8毫米角:Jukoko面积)
φ0.8mm(光谱学)
33毫米
2
(5.8毫米角:Jukoko面积)
软件名称
KOBRA-RE
KOBRA-PR
KOBRA-TW
KOBRA-RE
KOBRA - DSP / FD
KOBRA - RE
测量项目
面内延迟测量
入射角依赖
波长色散特性
椭圆偏振测量
扭曲角测量
测试模式
面内延迟测量
入射角依赖
波长色散特性
相位剖面
入射角依赖
波长色散特性
设备名称
用于长样本的相位差测量装置
相位差测量装置
的偏光板
在线相位差计
在线相位差计
设备类型
KOBRA-WX ***
系列
KOBRA-WX *** / IR
系列
KOBRA-WI系列
KOBRA-WIS / RT
测量方法
平行尼科尔旋转方法
平行尼科尔旋转方法
平行尼科尔旋转方法
平行尼科尔旋转方法
测量波长
450,550,590,650nm
850,900,950,1000,1050,1100nm
590纳米
样本大小
取决于样本阶段
测量区域
33毫米
2
(5.8毫米角:Jukoko面积)
软件名称
KOBRA-DSP / X
KOBRA-DSP / XIR
测量项目
相位差和方位角
分布
PVA基材和碘的延迟谱
相位差
相位差,方位角(Rth)
设备名称
微区
相差测量装置
相位差分布测量装置
微区
椭圆计
一般胶片
在线相位差计
设备类型
KOBRA-CCD
KOBRA-IMS
SAPA
KOBRA-WI / SPC
测量方法
平行尼科尔旋转方法
平行尼科尔光谱学
旋转分析仪的方法
平行尼科尔光谱学
测量波长
590纳米
样本大小
测量区域
软件名称
测量项目
相位差分布,取向角分布
相位差分布,取向角分布的轮廓
相位差
相位差
设备名称
极化方位测量仪
管
双折射测量装置
超高相位差测量装置
便携式椭圆偏振
测量装置
设备类型
PAM-P 100
PAM-IMS 100
PAM-UHR 100
PAM-PTB 100
测量方法
平行尼科尔光谱学
平行尼科尔光谱学
旋转分析仪的方法
测量波长
590纳米
样本大小
透明管,纤维,单轴拉伸膜
□40毫米,3毫米或更少
测量区域
天然发光体如面板
软件名称
测量项目
偏振方位角,透射率
相位差
相位差,方向角,双折射
椭圆,椭圆形方位角
设备名称
光轴测量装置
设备类型
PAM-PR 300
测量方法
旋转偏振片法
平行尼科耳旋转法
正交尼科耳旋转法
测量波长
590nm
选项:
450nm,630nm
样本大小
□30〜250mm
20mm厚度以下
测量区域
33
平方毫米(5.8平方毫米:光接收器表面)
软件名称
测量项目
偏振轴,方位角,相位差
此外,还有专门用于面内相位差测量的KOBRA - WR 0和KOBRA - WPR 0型号,没有样品倾角功能。
此外,KOBRA-WR,配备有在KOBRA-WPR,KOBRA-WRXY,自动XY工作台(*大行程200×200毫米)也KOBRA-WPRXY可制成。
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