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OSI王子计测超高相位差测量装置PAM-UHR100，玉崎原装进口位差仪

便携式椭圆偏振光测量装置PAM-PTB100，玉崎原装进口位差仪

光轴测量装置PAM-PR300，位差仪KOBRA-WR，玉崎原装进口位差仪

测量项目：极化轴方位，位差仪，方位角，日本位差仪，相位差

待测：光学薄膜，偏光板

测量原理：旋转分析仪法，平行尼科尔旋转法，正交尼科尔旋转法

测量时间：约4秒（偏振轴测量）

测量波长：590nm（选项= 450nm，630nm等）

样品尺寸：□30 mm至250 mm，t = 20 mm或更小

系统配置：测量装置主体，光源装置，笔记本电脑（Windows 10）

机身尺寸：W380×H390×D610毫米

体重：27公斤

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